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大功率高精度正向寿命试验台老化测试

发布日期 :2022-09-19 16:15访问:1次发布IP:113.140.248.139编号:4945164
品牌:
易恩电气
尺 寸:
800×800×1800(mm)
质 量:
155Kg
系统功耗:
380W
分 类
电工仪器
单 价
188.00元/台
最小起订量
1 台
供货总量
100 台
发货期限
自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至
长期有效
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详细介绍
 系统概述

绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,简称IGBT)作为功率开关器件,具有载流密度大、饱和压降低等许多优点,

但是由于其长期工作在高电压、大电流、高频开关状态等且运行环境复杂,IGBT功耗和结温频繁波动容易造成器件疲劳老化。目前国内外温度循环引起的器件失效机理已进行了深入研究,在此基础上正积极发展功率模块寿命预测技术以提高变流器运行可靠性。
        
        测试方法,器件在特定温度下存储一定时间后,在设定电流后 按规定施加条件对被试器件依次进行测试,测试间 隔时间约100mS


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